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干涉法薄膜测厚仪

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截止日期:2017-07-31 已有1人报价

询价物品

物品名称 图片 采购量 厂牌型号/规格属性
干涉法薄膜测厚仪
1 干涉法薄膜测厚仪
要求:
1. 可测量透明基质上透明膜的厚度。
2. 误差<5纳米。
3. 可测量大面积样品(1米宽)的中间部位。

采购要求

交货地 江苏省 泰州市