双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高 、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，治疗 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

售后管理：

我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备

进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护

变压器纸介电常数测试仪主要用于评估绝缘纸的极化性能及储能特性，其工作原理基于材料在交变电场下的电容响应与能量损耗特性，通过精密测量反映介电性能参数。

核心原理及方法如下：介质损耗因数和电容率测试仪

一、核心测量原理

1. 电容法（低频测量）

利用平行板电容器结构，将变压器纸作为绝缘介质置于两极间，通过对比真空与介质状态下的电容比值计算介电常数（ε = C介质/C真空）。

公式推导 ：根据平行板电容公式 C = \frac{\varepsilon_0 \varepsilon_r A}{d}C=

通过已知电极面积（A）、间距（d）和真空介电常数（ε ），反推材料的相对介电常数ε 。

适用场景 ：变压器纸作为固体介质，通常在工频或低频（<1 MHz）下测试，满足电力设备应用需求。

2. 谐振法（高频测量）

通过引入谐振电路，测量插入变压器纸后谐振频率的偏移或品质因数（Q值）变化，间接计算介电常数及损耗因子。

操作要点 ：

线圈电感与样品电容构成谐振回路，频率偏移量Δf与介电常数成反比；

通过Q值变化评估介质损耗，适用于高频（MHz级）性能分析。

优势 ：消除电磁干扰，精度可达0.1%，支持宽频带扫描（1 kHz~1 MHz）。

二、操作流程与关键步骤

步骤 技术要求 引用依据

样品制备 纸张需裁切平整，厚度均匀（±0.02 mm），表面清洁无油污

电极配置 采用圆形镀金电极（直径25~50 mm），确保与纸张接触紧密无气隙

仪器校准 使用标准聚四氟乙烯板（ε =2.1）进行零点校准，消除系统

参数设定 频率选择50 Hz或1 kHz（模拟工频），测试电压≤500 V防止击穿

数据采集 记录稳定状态下的电容值及损耗角正切（tanδ），重复测量3次取均值

三、典型技术指标

介电常数范围 ：ε =1.5~5.0（干燥变压器纸典型值为2.5~3.5）；

精度要求 ：电容测量≤±0.5%，相位分辨率≤0.01°；

环境控制 ：测试温度20±2℃，湿度<60% RH，避免吸潮影响数据。

四、应用意义

通过测定介电常数，可评估变压器纸的绝缘老化程度（如含水率升高导致ε 增大）或工艺缺陷（如厚度不均引起局部放电），为设备寿命预测及维护决策提供依据。

介电常数测试仪校准需遵循标准化流程，确保测量精度符合IEC 60250、ASTM D150等国际标准，具体校准步骤及技术要求如下：

一、校准前准备

设备与环境检查

确认测试仪接地可靠，环境温度控制在20±2℃，湿度≤60% RH；

检查高压线、电极夹具无破损，屏蔽层连接完整，校准用标准物质需通过CNAS认证。

标准物质选取

系统归零 ：使用空气或真空作为基准（ε=1.0006±0.0001）；

量程校准 ：选择至少2种标准电容（如100pF±0.01%和1000pF±0.01%）及损耗器（tanδ=0.001000±5%）。

二、校准核心步骤

校准类型 操作规范 引用依据

系统归零校准 安装空气电容夹具，将频率设为测试基准值（如1kHz），调节电桥平衡至损耗因数≤1×10

量程精度校准 接入标准电容并设置额定电压（如1kV），验证电容≤±0.1%，损耗因数≤±0.000227

温度补偿校准 在20~150℃区间测试标样（如石英玻璃），确保补偿斜率<0.05%/℃三、校准后验证

数据一致性检测

使用第三方认证样品重复测量3次，结果偏差应≤0.3%；

对比高频（1MHz）与低频（50Hz）模式下介电常数的一致性，差异超5%需重新校准。

证书与记录

生成校准证书，标注校准日期、标准物质编号及环境参数；

保存原始数据及调整记录，归档周期≥5年。

四、注意事项

接线稳定性 ：校准过程中电极夹具应固定牢固，避免振动导致接触电阻变化；

电磁屏蔽 ：高频校准时需使用同轴屏蔽室或电磁隔离装置，防止外部射频干扰；

异常处理 ：若校准数据异常波动（如tanδ突变＞20%），应立即停止并检查标准物质是否失效或仪器内部元件故障。

通过规范校准流程，可确保介电常数测试仪在全量程范围内的测量精度≤±0.5%，满足电力、通信等领域对材料绝缘性能评估的需求。