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CX低温温度传感器碳陶瓷温度计低温测量

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价格（元/个）	面议

供货总量：	未填写
产地：	北京市
发货期：	未填写

产品参数

是否有现货	是	输出信号	模拟型
测量方式	其它	材料及电子元件特性	其它
型号	Cx	规格	低温温度传感器
包装	标准包装	使用环境	用于辐射环境
重复性	±3 Mk @ 4.2 k	封装形式	SD、cu、AA
温度范围	20mk -500k

产品详情

Cx低温温度传感器不仅具有灵敏度高、热响应快、工作温区范围大、热循环重复特性好和机械强度高等特性，还具有低磁阻、耐辐照和年漂移量小等优点，可广泛应用于低温超低温系统、超导磁体系统、加速器、对撞机、同步辐射源、xian进光源、中子源、高能物理、天文望远镜、宇宙微波背景辐射探测和量子计算等领域。Cx温度传感器碳陶瓷温度计低温测量
Cx低温温度计的温度传感单元是磁控反应溅射生长的Cx薄膜，通过调节磁控反应溅射中氨氧化物比例和生长温度来调节Cx薄膜的温度响应范围，结合xian进的光刻技术和封装工艺,实现从20mK -500K温度范围的全覆盖,标称校准温度范围：2.8 K- 325K,可扩展到20mK温度下限和500K温度上限。Cx低温温度计的典型温度准确性:

±5mK@1K； ±5mK@4.2K；±15mK@77K；±50mK@ 300K。

Cx低温温度计有SD、CU和AA三种标准封装，也可定制尺寸小质量轻、热响应的Cx裸芯片，而在蓝宝石衬底上生长和加工的一体式Cx裸芯片和低磁阻加热器是热容测试的shou选。Cx温度传感器碳陶瓷温度计低温测量

Cx 低温温度计典型特征
工作温度范围大	低磁阻，对磁场不敏感
高灵敏度	耐高能辐照
机械强度高	热响应快
热循环重复特性好	优异短稳和长稳特性
年漂移量小

Cx 低温温度计与磁场相关的典型温度误差表
	1T	2T	3T	4T	5T	6T	7T	8T	9T	10T	11T	12T	13T	14T
1.45K	0.34	1.19	2.49	3.46	4.16	4.79	5.44	6.06	6.69	7.29	7.94	8.57	9.26	9.94
4.2K	0.05	0.08	0.11	0.13	0.16	0.18	0.24	0.30	0.36	0.47	0.59	0.68	0.77	0.90

等级	温度范围	标定范围	精度
A	4K~325K	无	±1K
4L	4K~325K	4K~325K	±0.1K
3H	2.8K~325K	2.8K~325K	±0.1K
1.4L	1.4K~325K	65K~330K	±0.1K
温度计精度=（校准不确定度2 + 重复性2）0.5

企业微信截图_

Cx 低温温度传感器技术参数

基本信息
标准曲线	不适用，每个传器需要标定后才能使用
激励	20μV（0.1 至0.5 K）；63μV（0.5 K至1 K）；T>1.2 K时小于等于10 mV
激励下的损耗	典型10-5 W@300 K，10-7 W @4.2 K，10-13 W@0.3 K（依据型号和温度）
热响应时间	CU封装: 1.5 ms@4.2 K，50 ms@77 K，135 ms@273 K SD封装：15 ms@4.2 K，0.25 s@77 K，0.8 s@273 K AA封装：0.4 s@4.2 K，2 s@77 K，1.0 s@273 K
用于辐射环境	用于辐射环境
用于磁场环境	在低温磁场中使用。磁阻通常在30 K以上可忽略，且不受磁场的取向的显著影响
重复性	±3 mK @ 4.2 K