TO46老化测试座热电堆传感器老化测试座

供货总量：3000000个   |   是否有现货：是

描述： 精心设计的外型结构，各型号器件都能轻松放置和提取；合理的接触方式，确保器件接触良好；接触片和部件选用 铜材，经良好的表面处理工艺，具有很长的使用寿命；紧凑的结构，减 和空间；合理的镀层厚度确保长期使用接触良好；特种塑料制造，能耐受潮湿的环境，长期使......

2021-01-15

DFN8 4*4mm 翻盖探针测试座

供货总量：10000件   |   是否有现货：是

描述： FN8(4*4)-0.8翻盖探针测试座\烧录座产品简介A、产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试B、适用封装:WSON\QFN\DFN8引脚间距0.8mmC、测试座:WSON\QFN\DFN8(4*4)-0.8D、特点:采用U型顶针......

2021-01-15

BGA152/132 8CE Flash测试座

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： bga152测试座，BGA132烧录座BGA152翻盖弹片转DIP96测试座产品简介产品用途:测试座，对BGA152的IC芯片进行测试适用封装:BGA152引脚间距1.0mm测试座:BGA152-1.0特点:弹片采用进口铍铜材料，阻抗小，弹性好。翻盖换取......

2021-01-15

TO46热电堆传感器老化测试座

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： TO封装元器件测试座TO46老化座耐高温TO46热电堆传感器老化座产品图纸联系客服TO封装元器件测试座TO46老化座耐高温TO46热电堆传感器老化座产品图纸：TO封装元器件测试座TO46老化座耐高温TO46热电堆传感器老化座产品图纸：TO封装元器件测试座......

2021-01-15

QFP64测试座STM32烧录TQFP64-0.5

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： 厂家直销、欢迎批发代理。产品简介型号:QFP64/LQFP64/TQFP64-0.5(兼容XWDZ-QFP64-0.5/FPQ-64-0.5-06)产品用途:编程座、测试座，对QFP64的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFP64LQFP64TQFP64......

2021-01-15

BGA272转DIP48测试架 BGA272测试座

供货总量：10000个   |   是否有现货：是

描述： BGA272转DIP48测试架BGA272测试座SSD、U盘转DIP48flash测试架座子设计成我司标准转DIP48的方式，可直接配合我们司提供的各种FLASH测试方案板上使用。实拍图：

2021-01-15

BGA152BGA132Flash测试座

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： BGA152/132翻盖探针测试座产品简介产品用途:测试座，对BGA152的IC芯片进行测试适用封装:BGA152引脚间距1.0mm测试座:BGA152-1.0特点:无需焊接，直接锁上螺丝即可。翻盖换取芯片方便，操作简单规格尺寸型号:BGA152-1.0......

2021-01-15

12XX贴片电容测试座按压1206贴片电容老化座

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： 排式12XX/1206贴片电阻电容测试座SMT贴片电容老化座1206贴片电阻电容测试座1206贴片电阻电容老化座如对尺寸有疑问可联系客服确认核对哦！现货出售，批发/零售，欢迎咨询！

2021-01-15

QFP48转DIP STM32烧录座

供货总量：30000个   |   是否有现货：是

描述： HMILUQFP48翻盖弹片测试座产品简介产品用途编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试适用封装QFP48、PQFP48、TQFP48，引脚间距0.5mm测试座QFT-48-0.5-06特点四周按芯片顺序引出所有引脚规格尺寸QFP48转DI......

2021-01-15

3225晶振测试座、3225晶振老化座

供货总量：10000个   |   是否有现货：是

描述： 工厂亏本 。量大来谈，双头探针接触，测试 稳定。安装 方便。3225-4pin晶振探针老化座3.2×2.5mmcrystalsocket测试座工厂直销，接受批发、零售贴片晶振32253.2*2.5mm4pin晶振双面弹老化座适用于有源晶......

2021-01-15