• 型号: LGA110-1.6翻盖探针测试座
• 产地: 中国大陆
• 适用场景: 测试，老化，编程
• 封装方式: LGA
• 引脚间距: 1.6mm
• 总尺寸 (含引脚): 11x14x1mm
• 主体尺寸: 11x14x1mm
• 引脚数: 110个
• 测试座类型: 翻盖式

LGA110翻盖探针测试座

产品简介

1. 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH；

2. LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低；

6. 采用手动翻盖式结构，操作方便；

7. 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；

8. 高精度的定位槽，保证LGA定位 ，生产效率高；

9. 整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！

10. 探针材料：铍铜(标准)；

11.绝缘材料：FR-4、PPS等；

产品功能

1. 对Flash进行清空及分类挑选。

2.对Nand Flash进行格式化，测试实际可以用容量。

3.对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。